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技術文章

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  • 20247-17
    應用分享 | HAXPES∣多層結構器件界面的無損深度分析案例

    XPS的探測深度在10nm以內,然而對于實際的器件,研究對象往往會超過10nm的信息深度,特別是在一些電氣設備中,有源層總是被掩埋在較厚的電極之下。因此,利用XPS分析此類樣品,需要結合離子刻蝕技術。顯然,離子刻蝕存在擇優(yōu)濺射效應,特別是對于金屬氧化物,會破壞樣品原始的化學態(tài),導致只憑常規(guī)XPS無法直接對埋層區(qū)域進行無損深度分析。好在研究表明增加X射線的光子能量可以增加探測深度。對此,ULVAC-PHI推出了實驗室HAXPES設備,且可同時配備微聚焦單色化AlKα(1486....

  • 20247-17
    應用分享 | X射線反射率(X-ray reflectivity, XRR)

    XRR是什么?XRR是一種方便、快速的分析單層或多層薄膜和表面的方法,是一種納米尺度上的分析方法,同時可實現(xiàn)無損分析。例如,通過原子層沉積(ALD)技術沉積的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界面的粗糙度,同樣也適用于其他方法制備的薄膜,如通過分子層沉積(MLD)沉積的有機/無機超晶格。與光學橢偏法不同,該方法不需要預先了解薄膜的光學性質,也不需要假設薄膜的光學性質。然而,XRR不能提供有關材料晶體結構的信息,并且多層膜只能在有限的深度內表征。XRR簡單原理介紹XRR分析...

  • 20247-10
    應用分享 | 原位冷凍TOF-SIMS對斑馬魚RPE組織的生物成像

    飛行時間二次離子質譜(TOF-SIMS),也叫靜態(tài)二次離子質譜,是飛行時間和二次離子質譜結合的一種新的表面分析技術。因其免標記、高靈敏、多組分檢測和高空間分辨成像等優(yōu)勢,為諸多生命科學問題的研究提供了重要的技術支持。近年來,TOF-SIMS在基礎細胞生物學、組織生理病理學、生物醫(yī)藥與臨床醫(yī)學等領域的研究中被廣泛應用。圖1.“水中小白鼠”斑馬魚(左);冷凍干燥的斑馬魚頭部截面的光學顯微鏡圖像(右)。小科普:斑馬魚(zebrafish)被稱為“水中小白鼠”,是生物學家的理想實驗對...

  • 20247-10
    應用分享 | 鋰離子電池充放電下的原位XPS表征

    鋰離子電池(LIBs)和鋰金屬電池(LMB)都是多層的復雜體系,具有多種材料和界面,每個膜層和界面在性能和穩(wěn)定性方面都起著關鍵作用。調整這些材料的組成和形態(tài)就可以創(chuàng)建更穩(wěn)定、性能更高的器件,但這些材料非常難以處理和表征。鋰金屬極其容易發(fā)生化學反應,形成枝晶,枝晶會刺穿隔膜造成短路,鋰金屬負極在充放電過程中也會明顯收縮,破壞保護的固體電解質(SEI)膜,降低使用壽命和效率。SEI膜形成的LiF層可以對金屬鋰表面起到鈍化效果,減少鋰枝晶的形成,以提高電池的耐用性,因此開發(fā)性能穩(wěn)定...

  • 20247-10
    布魯克全新臺式D6 PHASER應用報告(五)—殘余應力分析

    殘余應力是材料在經(jīng)過焊接、鑄造、成型、機械加工或薄膜沉積等過程中殘留在材料中的內應力。殘余應力分析對于了解這些內應力如何影響部件的性能和使用壽命非常重要。此外,殘余應力分析還可以確定特定的材料特性和失效機制,從而用于構件和零件的設計。傳統(tǒng)上,殘余應力的測試只能在大型落地式衍射儀上進行,臺式衍射儀通常用于簡單的測試項目,比如物相分析。而D6PHASER是一款多功能臺式衍射儀,它不僅可以進行常規(guī)的粉末衍射分析,還可以進行薄膜測試(GID、XRR)、織構和應力測試、對分布函數(shù)測試(...

  • 20247-2
    應用分享 | PHI TOF-SIMS助力鋰電的綠色可持續(xù)發(fā)展戰(zhàn)略

    PHITOF-SIMSAssistingTheGreenandSustainableDevelopmentStrategyofLithiumBattery隨著國內新能源汽車銷量高速增長,動力電池裝機量也隨之迅速攀升。鑒于新能源汽車動力電池的平均使用壽命約為6~8年,動力電池在未來2-3年內將迎來大規(guī)模退役潮,因此動力電池的回收已成為全國甚至全球相關產(chǎn)業(yè)可持續(xù)發(fā)展的關鍵。鋰的回收需要考慮諸多問題,如回收效率、回收成本、環(huán)境污染以及方法的可行性等。傳統(tǒng)的廢鋰回收方法主要有火法冶金...

  • 20247-2
    應用分享 | 薄膜深度分析之角分辨XPS

    XPS作為一種表面靈敏的分析技術,可以探測樣品表面10nm以內的信息,而在材料分析中深度分析是獲取不同深度下組分和化學態(tài)信息的重要方法。在XPS深度分析中,有3個采樣深度值得關注:(1)0-10nm,這是基于常規(guī)AlKαX射線XPS的探測深度,對于超薄膜層結構的深度分析可以通過變角度XPS實現(xiàn);(2)0-30nm,這是基于硬X射線XPS(HAXPES)的探測深度,可以通過切換X射線能量進行無損深度分析;(3)0-1000nm,需要采用離子束剝離的破壞性深度剖析。氬離子刻蝕是常...

  • 20247-2
    布魯克全新臺式D6 PHASER應用報告系列(四)— 分子篩表征

    X射線衍射(XRD)是表征有序材料結構的重要工具。高角度的相干散射可以反映原子的排列。在非常低的角度也可以觀察到相干信號,這些信號可以用來表征分子篩材料(比如ZSM-41或SBA-15)中圓柱形孔的周期性排列。案例分析低角度數(shù)據(jù)采集需要嚴格控制空氣散射和照在樣品上的光斑面積。通過適當?shù)剡x擇一個固定尺寸的主光路發(fā)散狹縫和一個固定的防空氣散射屏,可控制上述的兩個條件。在D6PHASER上使用動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)系統(tǒng),從而使光路和光斑的控制更加的方便和優(yōu)化可調。DBO包含可變發(fā)散...

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