織構簡介

一般的多晶材料表現(xiàn)出各向同性，這是因為在多晶體中各晶粒無規(guī)取向。如果因為某些原因使得每個晶粒的取向趨于一致，我們稱之為擇優(yōu)取向或者織構。出現(xiàn)織構以后，材料將表現(xiàn)出不同程度的各向異性。在多數(shù)情況下，我們不希望有織構。但一些織構結構可以提高材料的力學和電學性質，因此樣品正確的取向或織構至關重要。

大多數(shù)金屬樣品在加工過程中由于加工技術而表現(xiàn)出一定程度的織構結構。比如電鍍層在形成時，織構往往與電流傳導方向相關。金屬經鍛造、軋制、擠壓、拉拔等加工時，由于加工應力的作用將形成形變織構，而具有形變織構的金屬經退火后又會出現(xiàn)退火織構。
測試案例

由于X射線衍射對材料的原子結構很敏感，因此可以用來測量材料的取向度或織構結構。為了測量織構，需要一種系統(tǒng)能夠在入射角和衍射角相等的“布拉格"條件下傾斜樣品。此外，還必須將樣品旋轉，并建立強度與旋轉角度phi的函數(shù)。這可以通過D6 PHASER衍射儀中的通用樣品臺（universal stage）和 phi旋轉模塊來實現(xiàn)。樣品可以安裝在51mm的標準樣品槽內，或者安裝在標準的金相拋光槽內，進而裝載到通用樣品臺上，如圖1所示。在本應用報告中，我們介紹了使用D6 PHASER衍射儀對鋁塊的織構測試結果。

▲圖1. 通用樣品臺和 phi旋轉模塊

在測試軟件的WIZARD選項中設計測量方案。使用圖形用戶界面，對鋁的三個晶面（400）、（331）和（420）采用同傾法進行了一連串的phi掃描。三張極圖的結果在大約30分鐘后收集到。
織構分析

然后，將測量數(shù)據(jù)導入 DIFFRAC.TEXTURE織構分析軟件，將phi掃描轉換為極圖。該分析過程通過使用大量原始數(shù)據(jù)自動、快速地進行。同傾法的吸收相關的校正軟件自動計算。使用包含所測材料的數(shù)據(jù)庫對極圖進行自動索引。使用成分法（component method）完成了極圖的擬合。在這種情況下，具有單斜加工對稱性的簡單橢圓成分被探測出。圖2顯示了重新計算的極圖結果。通過分析3個極圖并使用晶體對稱性，外面區(qū)域被重新計算后模擬填充。

▲圖2. 鋁樣品的（400）、（311）和（420）測試極圖和計算極圖

在圖3中顯示了 軋向RD、橫向TD和法向 ND三個方向的重新計算的反極圖結果。在軋制RD方向上觀察到強烈的[111]織構，在法向上觀察到[101]至[112]織構，在橫向上觀察到[111]到[101]織構。

▲圖3. 鋁樣品的反極圖

為了更多地了解，取向分布函數(shù)（ODF）也被計算出，如圖4所示。

▲圖4. 鋁樣品的取向分布函數(shù)（ODF）

-轉載于《布魯克X射線部門》公眾號